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    Perthometer S2粗糙度儀

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    Perthometer S2粗糙度儀

    特點:
    可根據現行標準進行粗糙度和波紋度測量(DIN EN ISO 3274, 如. 帶通濾波器)
    盡管包含了充電電池,機身重量也很輕
    大尺寸、高清晰圖形顯示,顯示結果和輪廓圖形
    自動提示設計和超大按鈕使儀器易于操作
    利用內置的熱敏打印機可實現快捷的文件打印
    PCMCIA 存儲卡能存儲測量程序、結果和輪廓
    附加的S2Prog 編程軟件,方便你輕易新建測量程序
    范圍廣、方便使用的軟件功能,例如
    - 自動設定標準化濾波器和行程長度
    - 校準和維護周期的自動監控
    - ARC 功能用于消除arc 影響
    - 動態和靜態校準過程
    - 可評定多達 41 參數,根據DIN EN ISO, JIS, ASME, MOTIF,
      R, W, P 和 D 設定的輪廓參數標準,以及MRK/ADK 等特征曲線 
    - 多種濾波器和行程長度可選
    - 聲光信號提示的公差監控
    - 儀器設置鎖定,以防止意外更改和密碼保護
    - 內置統計功能
    - 功能鍵鍵計,一鍵開始某個獨立功能
    - 快速調用和打印某測量記錄和測量功能
    軟件可通過PCMCIA 存儲卡進行升級
    PLC 接口用于集成S2至您生產線上
    RS 232 C 接口用于數據傳送與遠程控制

    具體如下圖所示 :


    技術數據:
    測量原理  → 探針接觸測量法
    測量范圍
    范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
    (± 1,000 μin/.032 μin)
    ± 250 μm/8 nm
    (± 10,000 μin,/.315 μin)
    ± 2,500 μm/80 nm
    (± 100,000 μin/3.15 μin)
    65,536 步長/垂直范圍
    11,200 測量點/標準掃瞄長度
    標準  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
    輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉) 
    垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
     (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
    水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
    用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
    圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
    (.015/.049/.157/.492/1.575 in)
    掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
    (.022/.070/.224/.700/2.240 in)
    掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
    (MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
    特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調
    (.022 in 至 4.724 in)
    技術特征
    • 依照 ISO / JIS 或 MOTIF標準, 可測量多達 65 種參數,  包括
    R, P 和 W 輪廓
    • 公差監控和數據統計功能
    • 通過 Teach-In 模式, 快速建立 Quick & Easy 測量程序
    • 廣泛的記錄功能
    • 模擬操作可幫助操作者更快地悉識系統操作
    • 按客戶的實際應用情況, 選擇不同的系統兀配置
    • 可設置不同水平的用戶權限
    • 通過計算機連接打印機, 可打印 A 4 表格
    • 可在計算機上獲得所測的輪廓
    •  條形圖顯示傳感器位置信號
    •  數字按鈕輸入
    •  可記錄測量日期和時間
    •  輪廓水平和垂直方向縮放比例可調
    •  可快速顯示測量結果, 包括參數和輪廓演示

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